Hyde Perniagaan (Beijing) Bioteknologi Co., Ltd.
Home>Produk>Raster linear berubah-ubah (R72SayceLogarithmicTestChart)
Raster linear berubah-ubah (R72SayceLogarithmicTestChart)
Carta Ujian Logaritmik Sayce R72
Perincian produk

Sasaran ujian raster linear berubah ubah,Menyediakan90Garis akar, lebar keseluruhan pengedaran adalah100mmResolusi daripada1.25Pasangan garis/milimeter kepada250Pasangan garis/milimeter,Sasaran ujian ini digunakan terutamanya untuk menentukan resolusi sistem optik. Perubahan panjang garis boleh membantu mengira. Dari refleksi rendah, vakum sputtering kromium plating ke tebalPerkhidmatan : 0.175mmpada filem poliester tebal.

Nombor barang

Penerangan Produk

Spesifikasi

R72

Raster Linear Berubah (R72 Carta Ujian Logaritma Sayce

satu

Penyelidikan dalam talian
  • Kenalan
  • Syarikat
  • Telefon
  • E- mel
  • WeChat
  • Kod Pengesahan
  • Kandungan Mesej

Operasi berjaya!

Operasi berjaya!

Operasi berjaya!